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半導(dao)體FT客制化測試系統

    • 半導體FT客制化測試系統(圖1)
    • 產品概述

      聯(lian)合儀器(qi)(qi)MEMS測試(shi)系(xi)統UI320A采(cai)用測試(shi)機(ji)加轉臺的(de)構架,是對MEMS陀螺儀和加速度計的(de)測試(shi)平臺。可(ke)對MEMS傳感器(qi)(qi)芯片進(jin)行(xing)測試(shi),支持(chi)I2C/SPI的(de)通訊方式,提供免費的(de)開源軟件底(di)層API基于(yu)C開發,支持(chi)VC,VC++,labview等(deng)。

    • 半導體FT客制化測試系統(圖2)
    • 產品特點

      ● 通過高精度馬達進(jin)行(xing)系統運動
      ● 采用高集成度控制(zhi),通過PLC控制(zhi)電(dian)路直接執行功(gong)能,簡化(hua)編程工(gong)作
      ● 預設執(zhi)行動(dong)作(zuo),自定(ding)義控(kong)制
      ● 可以支持多達36site并(bing)行同步測(ce)試(shi)
      ● 可以根(gen)據(ju)需求進行擴展(zhan)
      ● 支持自定(ding)義開發

      集成測試系統的主要技術指標見下表

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    • 基本功能和性能


      目標器件:
      ● 陀螺(luo)儀,加速度計等
      產品功能:
      ● Open/Short測(ce)試
      ● 負載電流(liu)測試(shi)
      ● DC參數測(ce)試
      ● 三軸low-g測(ce)試(shi)
      ● 三軸(zhou)角速(su)度測試(shi)
      ● 溫度測試

半導體FT客制化測試系統

010-58816565