產品概述

UI3064A/UI3164A是由聯合儀器研發設(she)計，針對低階數(shu)字芯片的測試系(xi)(xi)統。此系(xi)(xi)統采用PXI架構(gou)，配置多塊板卡(ka),可(ke)靠性(xing)高，擴展性(xing)好，可(ke)按照客戶(hu)需求配置相應(ying)功能,為客戶(hu)提供靈(ling)活開放的服(fu)務。

產品特點

UI3064A/UI3164A是由聯合儀器研發設計，針(zhen)對低階(jie)數字芯(xin)片的(de)測試系統。此系統采(cai)用PXI架構，配(pei)置多(duo)塊板(ban)卡(ka),可(ke)(ke)靠性(xing)高，擴展性(xing)好，可(ke)(ke)按(an)照客(ke)戶需(xu)求配(pei)置相應功能,為客(ke)戶提供靈(ling)活開放(fang)的(de)服務。

基本功能和性能

目標器件：
● 數字芯(xin)片,指(zhi)紋(wen)識別芯(xin)片等

集成測試系統的主要技術指標見下表：